蔡司Sigma系列產品集場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）技術與良好的用戶體驗于一體，可輕松實現成像和分析程序，提高工作效率。 您可以將其用于新材料和顆粒的質量監測，或用于生物和地質樣品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低電壓，在1 kV或更低電壓下獲得更佳的分辨率和襯度。它出色的EDS幾何學設計可執行高級顯微分析，以兩倍的速度和更高的精度獲取分析數據。

技術參數：

性能特點：

Sigma 360是一款直觀的成像和分析FE-SEM，是分析測試平臺的理想之選。

直觀成像工作流為您指引方向從設置到獲取基于人工智能的結果，每一步都清晰明了即使您是新手用戶，也能輕松獲得專業結果。Sigma系列可迅速獲取圖像，易于學習和使用的工作流程可節省培訓時間，簡化從導航到后期處理的每個步驟，讓您如虎添翼。蔡司SmartSEM Touch中的軟件自動化可助您完成導航、參數設置和圖像采集等步驟。接下來，ZEN core便可大顯身手:它配備針對具體任務的工具包，適用于后期處理。我們十分推薦基于機器學習的人工智能工具包，它可助您進行圖像分割，將多模式實驗與ConnectToolkit相結合，此外，Materials應用程序還能分析微觀結構、晶粒尺寸或涂層厚度。

• 從設置到獲取基于人工智能的結果，均提供專業向導，為您保駕護航，助您探索直觀的成像工作流。

• 可在1 kV和更低電壓下分辨差異，實現更高的分辨率和優化的襯度。

• 可在ji端條件下執行可變壓力成像，獲得出色的非導體成像結果。

Sigma 560采用先進的EDS幾何學設計，可提供高通量分析，實現自動原位實驗。

對實體樣品進行高效分析EDS:通用、高速，助您深入研究Siqma 560的先進EDS幾何學設計可提高分析效率。兩個180°徑向相對的EDS端口確保了即使在低電壓小束流條件下，也能實現高通量無陰影元素分布成像。樣品倉的附加EBSD和WDS端口不局限于滿足EDS分析。不導電樣品也可以使用全新的NanovP lite模式進行分析，并能獲得更強的信號和更高的襯度。全新的aBSD4探測器可輕松實現表面形貌復雜樣品的圖像采集

• 高通量分析，原位實驗自動化

• 對實體樣品進行高效分析：基于SEM的高速和全fang位分析。

• 實現原位實驗自動化：無人值守測試的全集成實驗室。

• 可在低于1 kV的條件下完成要求嚴苛的樣品成像：采集完整的樣品信息。

應用范圍：

• 材料科學

探索聚合物、纖維、二硫化鉬等材料樣品的圖像。

• 生命科學

了解更多有關原生動物或真菌的微觀和納米結構信息，獲取切面樣品或薄片上的超微結構。

• 地球科學與自然資源

探索巖石、礦石和金屬。

• 工業應用

了解如何對金屬、合金和粉末進行研究。